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薬剤師の過去問 第16557問 出題

問題

X 線回折法に関する記述のうち、正しいのはどれか。2つ選べ。
 1 . 
X 線源のターケット(対陰極)にはCu や Mo が用いられる。
 2 . 
測定には、連続X線が通常用いられる。
 3 . 
X 線結晶構造解析では、回折斑点の強度から結晶の格子定数が求められる。
 4 . 
粉末 X 線回折法では、結晶構造に基づいた同心円状の回折像が得られる。
 5 . 
X 線を結晶に照射すると、主にその物質中の原子核の強制振動が起こり、散乱X 線が生じる。

この薬剤師 過去問の解説(3件)

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正解:1.4

1 X線回折法の光源には、一般にX線管球が用いられます。X線管球はCuやMoを対陰極に衝突させ、X線を発生させます。

2 X線回折法の測定には、固有X線が用いられます。

3 回折斑点からは、分子構造を決定することができます。

4 粉末X線回折法では、試料にX線を照射することで、同心円上の回折像を得ることができます。

5 X線を結晶に照射すると、主にその物質中の電子の強制振動が起こります。これにより散乱X線が生じます。
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2017/08/15 01:12
ID : vycbkjhj
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正解【1,4】

2.測定に用いられるのは特性X線です。

3.そのほかに位置も必要です。

5.散乱X線は、照射したX線が、電子の影響を受けることにより散乱したX線のことです。
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2016/09/04 01:00
ID : ukamahrst
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正解【1・4】

1.正しい記述です。

2.測定は、連続X線ではなく、特性X線を用います。

3.格子定数を求めるためには、回折斑点の強度だけでなく、位置も求めます。

4.正しい記述です。

5.散乱X線とは、X線を照射した際に電子の散乱によって、放射されるX線の事をいいます。
原子核の強制振動で起こるものではありません。
評価後のアイコン
2015/01/22 00:10
ID : zgrptkxfgo
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